基于人工智能的机器视觉技术，在推动企业实现智能制造，提高良品率及产品竞争力上具有重要价值。

LED瑕疵识别是其生产封装过程中质量控制的重要环节。目前，通过多角度光源技术，可以对20*30mm左右大小的LED灯珠进行成像，并且良次品以及不同瑕疵间具有一定的区分性。如何设计有效算法利用多角度光图像进行LED瑕疵识别，成为落地应用过程中需要突破的关键问题。

1、报名参赛：选手选择竞赛，点击“报名参赛”完成注册或者登录即可报名成功。选手可以单人建队参赛，也可以与他人组队参赛。

2、提交结果：报名后选手“下载数据”，按照比赛要求进行数据处理，根据要求“提交结果”并获得分数。

3、赛后获奖：比赛结束后官方工作人员会在竞赛圈公布获奖队伍名单，并联系获奖选手。

比赛过程中请仔细阅读赛程安排、参赛规则、赛题数据说明等竞赛信息，如有疑问请联系竞赛工作人员。